学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
基于自动测试系统的ADC测试开发
被引:15
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
张建强
[
1
]
冯建华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京大学微电子学系
北京大学深圳研究生院
冯建华
[
2
]
冯建科
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京自动测试技术研究所
北京大学深圳研究生院
冯建科
[
3
]
机构
:
[1]
北京大学深圳研究生院
[2]
北京大学微电子学系
[3]
北京自动测试技术研究所
来源
:
仪器仪表学报
|
2007年
/ 02期
关键词
:
模拟数字转换器;
参数;
计算机辅助测试;
D O I
:
10.19650/j.cnki.cjsi.2007.02.016
中图分类号
:
TP274.4 [];
学科分类号
:
摘要
:
A/D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今ADC测试研究的重点。本文阐述了ADC的静态和动态参数测试,并在自动测试系统的ADC测试过程中,深入分析了ADC测试环境的配置,从而实现了一种低成本、高可靠性的ADC计算机辅助测试方法,并在BC3192V50测试系统上得到了验证。
引用
收藏
页码:279 / 283
页数:5
相关论文
共 8 条
[1]
全数字的模数转换器内建自测试方案
饶进
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
饶进
吴光林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
吴光林
凌明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
凌明
胡晨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
胡晨
[J].
应用科学学报,
2004,
(03)
: 356
-
359
[2]
高速ADC微分相位、微分增益的测试
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李迅波
陈光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学
陈光
严顺柄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学
严顺柄
[J].
电子学报,
2003,
(12)
: 1897
-
1899
[3]
高速模/数转换器常规参数的动态测试
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
蒋和伦
[J].
微电子学,
2003,
(03)
: 184
-
186+189
[4]
面向系统芯片的可测性设计
陆思安
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
陆思安
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
史峥
严晓浪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
严晓浪
[J].
微电子学,
2001,
(06)
: 440
-
442
[5]
SOC的可测性设计
梁宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学微电子中心
梁宇
韩奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学微电子中心
韩奇
魏同立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学微电子中心
魏同立
郑茳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学微电子中心
郑茳
[J].
固体电子学研究与进展,
2001,
(03)
: 246
-
252
[6]
高速高精度模数变换器的动态测试
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘天宽
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
虞孝麒
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
杨涛
[J].
核电子学与探测技术,
1997,
(02)
: 20
-
23
[7]
模拟集成电路的测试与故障检测技术
王志华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
清华大学电子工程系
王志华
[J].
电子学报,
1995,
(10)
: 81
-
85+31
[8]
计算机辅助测试技术导论[M]. 电子工业出版社 , 刘凤新等编著, 2004
←
1
→
共 8 条
[1]
全数字的模数转换器内建自测试方案
饶进
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
饶进
吴光林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
吴光林
凌明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
凌明
胡晨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
胡晨
[J].
应用科学学报,
2004,
(03)
: 356
-
359
[2]
高速ADC微分相位、微分增益的测试
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
李迅波
陈光
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学
陈光
严顺柄
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学
严顺柄
[J].
电子学报,
2003,
(12)
: 1897
-
1899
[3]
高速模/数转换器常规参数的动态测试
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
蒋和伦
[J].
微电子学,
2003,
(03)
: 184
-
186+189
[4]
面向系统芯片的可测性设计
陆思安
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
陆思安
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
史峥
严晓浪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
浙江大学超大规模集成电路设计研究所
严晓浪
[J].
微电子学,
2001,
(06)
: 440
-
442
[5]
SOC的可测性设计
梁宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学微电子中心
梁宇
韩奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学微电子中心
韩奇
魏同立
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学微电子中心
魏同立
郑茳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东南大学微电子中心
郑茳
[J].
固体电子学研究与进展,
2001,
(03)
: 246
-
252
[6]
高速高精度模数变换器的动态测试
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘天宽
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
虞孝麒
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
杨涛
[J].
核电子学与探测技术,
1997,
(02)
: 20
-
23
[7]
模拟集成电路的测试与故障检测技术
王志华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
清华大学电子工程系
王志华
[J].
电子学报,
1995,
(10)
: 81
-
85+31
[8]
计算机辅助测试技术导论[M]. 电子工业出版社 , 刘凤新等编著, 2004
←
1
→