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红外热像仪精确测温技术
被引:117
作者:

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机构:

孙晓刚
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机构: 哈尔滨工业大学

原桂彬
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机构: 哈尔滨工业大学
机构:
[1] 哈尔滨工业大学
来源:
关键词:
红外热像仪;
温度测量;
误差分析;
发射率;
D O I:
暂无
中图分类号:
TN214 [红外光学器件];
学科分类号:
摘要:
为实现红外热像仪对温度的精确测量,根据热辐射理论和红外热像仪的测温原理,推导了计算被测物体表面真实温度的通用计算公式;讨论了发射率对测温精度的影响,分析了用红外热像仪进行精确测温的条件,探讨了环境、大气和热像仪本身对测量精度的影响,并绘制了各种因素对测温精度影响的理论曲线。结果表明:发射率为0.7时,真实温度为50℃,发射率偏离0.1时,对于3~5μm热像仪来说,测温结果偏离真实温度0.76~0.89℃;对于8~14μm热像仪来说,测温结果偏离真实温度1.56~1.87℃。本研究结果对提高热像仪测量温度和表面发射率的准确性,减小不必要的测量误差具有实际意义。
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页码:1336 / 1341
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