X射线荧光光谱法测定硅酸盐中硫等20个主、次、痕量元素

被引：90

作者：

李国会，卜维，樊守忠

机构：

[1] 地矿部物化探研究所

来源：

光谱学与光谱分析 | 1994年 / 01期

关键词：

X射线荧光光谱法，硅酸盐，混合熔剂;

D O I：

暂无

中图分类号：

O613.72 [硅Si];

学科分类号：

070301 ; 081704 ;

摘要：

本文使用新研制的偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂，在１０００℃熔融制样，以Ｘ射线荧光光谱法测定硅酸盐等样品中的Ｓ，Ｎａ，Ｍｇ，Ａｌ，Ｓｉ，Ｐ，Ｋ，Ｃａ，Ｔｉ，Ｍｎ，Ｆｅ，Ｂａ，Ｃｒ，Ｖ，Ｓｒ，Ｚｒ，Ｒｂ，Ｃｕ，Ｎｉ和Ｎｂ等２０种元素，采用理论α系数和康普顿散射线作内标校正元素间的吸收－增强效应。其分析结果的精密度和准确度可与化学法相比

引用

页码：105 / 110+104

页数：7

共 5 条

[1] X荧光分析地质样品时的制样方法 [J].