介质阻挡放电等效电容变化规律的研究

被引：16

作者：

王辉

方志

邱毓昌

孙岩洲

机构：

[1] 西安交通大学电气工程学院

来源：

绝缘材料 | 2005年 / 01期

关键词：

常压低温等离子体; 介质阻挡放电; 等效电容; 李萨育图形;

D O I：

10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2005.01.012

中图分类号：

TM53 [电容器];

学科分类号：

摘要：

介绍了介质阻挡放电(DBD)的介质等效电容Cd和Cg气隙等效电容的测量方法。通过在实验室建立的产生DBD的实验装置,研究了放电过程中外加电压幅值、气隙距离、阻挡介质的厚度和介电常数等因素对Cd和Cg的影响,并对实验结果作了分析。结果表明,Cd随着外加电压的幅值和介质的介电常数增加而增加,随着气隙距离和介质厚度的增加而减小。Cg随着气隙距离和外加电压幅值的增大而减小,而受介质厚度、介质的介电常数的影响不大。

引用

页码：37 / 40

页数：4

共 7 条

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