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弹头发射痕迹计算机图像比对系统研究
被引:8
作者
:
郭军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
华中科技大学机械学院仪器系
郭军
曾文涵
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机构:
华中科技大学机械学院仪器系
曾文涵
谢铁邦
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机构:
华中科技大学机械学院仪器系
谢铁邦
机构
:
[1]
华中科技大学机械学院仪器系
来源
:
兵工学报
|
2003年
/ 04期
关键词
:
计算机应用;
发射痕迹;
屏幕比对;
快速自动聚焦;
码纹特征;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
D918 [刑事侦查学(犯罪对策学、犯罪侦查学)];
学科分类号
:
0306 ;
030604 ;
030609 ;
0838 ;
摘要
:
弹头发射痕迹的比对是破获涉枪案件的关键之一 ,我国目前在这方面采用的方法都是依靠枪弹痕迹专家在比对显微镜下对所有待比的弹头逐一进行两两比对。这种低效的方法已无法适应形势发展的需要。本文介绍了一种新型弹头发射痕迹计算机图像比对系统 ,包括系统的硬件结构 ,软件功能以及主要技术关键及其解决方法。该系统较好地解决了原先的弹头发射痕迹比对方法中存在的问题 ,实践结果表明具有较高的应用推广价值。
引用
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页码:504 / 508
页数:5
相关论文
共 2 条
[1]
一种新型非接触式三维弹头痕迹检测系统
[J].
谢峰
论文数:
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0
机构:
华中理工大学!武汉,华中理工大学!武汉,华中理工大学!武汉,公安部第二研究所!北京
谢峰
;
谢铁邦
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李柱
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王放民
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华中理工大学!武汉,华中理工大学!武汉,华中理工大学!武汉,公安部第二研究所!北京
王放民
.
仪器仪表学报,
2000,
(01)
:46
-49
[2]
物证技术学.[M].孙言文等撰稿;徐立根主编;.中国人民大学出版社.1990,
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共 2 条
[1]
一种新型非接触式三维弹头痕迹检测系统
[J].
谢峰
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机构:
华中理工大学!武汉,华中理工大学!武汉,华中理工大学!武汉,公安部第二研究所!北京
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李柱
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王放民
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.
仪器仪表学报,
2000,
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物证技术学.[M].孙言文等撰稿;徐立根主编;.中国人民大学出版社.1990,
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