一种新型非接触式三维弹头痕迹检测系统

被引：6

作者：

谢峰

谢铁邦

李柱

王放民

机构：

[1] 华中理工大学!武汉,华中理工大学!武汉,华中理工大学!武汉,公安部第二研究所!北京

来源：

关键词：

非接触测量; 枪弹检验; 弹头发射痕迹; 圆光栅分度头;

D O I：

10.19650/j.cnki.cjsi.2000.01.013

中图分类号：

TH74 [光学仪器];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

本文介绍了一种新研制的非接触式三维弹头痕迹检测系统的原理、结构、控制以及实验结果。该系统垂直分辨率为 0 .0 1μm,测量范围± 30 0μm,圆分辨率 5 0″,轴向分辨率为 1 .2 5μm,可以完整地获取弹头发射痕迹的真实形貌

引用

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