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BGA检测技术与质量控制
被引:35
作者
:
汤勇峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
巨龙通信设备有限责任公司!北京
汤勇峰
机构
:
[1]
巨龙通信设备有限责任公司!北京
来源
:
电子工艺技术
|
2000年
/ 01期
关键词
:
表面组装技术;
球栅阵列封装;
检测;
X射线;
质量控制;
D O I
:
10.14176/j.issn.1001-3474.2000.01.005
中图分类号
:
TN407 [测试和检验];
学科分类号
:
080903 ;
1401 ;
摘要
:
从生产过程中的质量控制角度出发,探讨了目前一些生产中应用于球栅阵列封装(BGA)的检测方法和实用系统,详细论述了X 射线检测系统的开发原理及研究应用状况,指出掌握和提高检测技术,将能有效控制BGA 的焊接和组装质量。
引用
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页码:17 / 19
页数:3
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共 3 条
[1]
BGA封装技术与SMT/SMD
[J].
朱颂春
论文数:
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机构:
电子部43所
朱颂春
;
况延香
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0
机构:
电子部43所
况延香
.
电子工艺技术,
1998,
(04)
:25
-27
[2]
电子工艺基础.[M].王卫平等编;.电子工业出版社.1997,
[3]
表面组装技术.[M].宣大荣等编著;.电子工业出版社.1994,
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共 3 条
[1]
BGA封装技术与SMT/SMD
[J].
朱颂春
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电子部43所
朱颂春
;
况延香
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况延香
.
电子工艺技术,
1998,
(04)
:25
-27
[2]
电子工艺基础.[M].王卫平等编;.电子工业出版社.1997,
[3]
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