X射线荧光光谱法同时测定电子电气产品中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴

被引：20

作者：

宋武元 ^{[1
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郑建国 ^{[1
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肖前 ^{[1
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周明辉 ^{[1
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刘志红 ^{[2
]}

刘丽 ^{[2
]}

机构：

[1] 广东出入境检验检疫局

[2] 深圳出入境检验检疫局

来源：

光谱学与光谱分析 | 2006年 / 12期

关键词：

X射线荧光光谱; 有毒有害元素; 电子电气产品;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.34 [Ｘ射线荧光分析法];

学科分类号：

摘要：

提出了用X射线荧光光谱法同时测定电子电气设备中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴的一种新的测试方法。研究了金属材料基体、聚合物基体和不同电子产品等基体对待测元素的影响,研究了元素间谱线重叠所产生的光谱干扰,考察了样品大小不同和样品厚度不同对待测元素测试结果的影响,并选用Rh线的康普顿散射线作内标来校正这些非光谱干扰的影响。选用自制的参考物质制作工作曲线,各待测元素的浓度范围从最低测定下限100到1 500 mg.kg-1,均获得非常好的线性关系。选用有证标准物质BCR-681,并设置100 s测量时间来计算铅、汞、铬、镉和溴的最低检出限,其检出限分别为PbLβ0.64 mg.kg-1,HgLα0.51 mg.kg-1,CrKα0.78 mg.kg-1,CdKα1.10 mg.kg-1和BrKα0.27 mg.kg-1。以BCR-681作为实际样品进行测试,其结果与标准推荐值非常吻合。

引用

页码：2350 / 2353

页数：4

共 5 条

[1] 最佳逼近算法电感耦合等离子体原子发射光谱测定镀铝锌彩涂板镀层中铝、锌、硅和铁 [J].