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ICP-AES法测定金属硅中的Al、B、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Sr、Ti、V和Zn杂质元素
被引:33
作者
:
张桂广
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机构:
广东省韶关进出口商品检验局!韶关,广东省韶关进出口商品检验局!韶关,广东省韶关进出口商品检验局!韶关
张桂广
黄奋
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广东省韶关进出口商品检验局!韶关,广东省韶关进出口商品检验局!韶关,广东省韶关进出口商品检验局!韶关
黄奋
孙晓纲
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孙晓纲
机构
:
[1]
广东省韶关进出口商品检验局!韶关,广东省韶关进出口商品检验局!韶关,广东省韶关进出口商品检验局!韶关
来源
:
光谱学与光谱分析
|
2000年
/ 01期
关键词
:
ICP-AES;
金属硅;
杂质元素;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O657.3 [光化学分析法(光谱分析法)];
学科分类号
:
摘要
:
本文提供了一种测定金属硅中B、Fe、Al、Ca、Mn等 14个杂质元素的ICP AES方法。在样品处理过程中 ,加入适量体积的甘露醇能够抑制B的挥发。用本方法测定了一个国家地球化学标准样 (GSR 4 ) ,结果令人满意
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页数:3
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IC用高纯试剂中金属杂质分析
[J].
朱春富,吴琼
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电子部电子专用材料质量检测中心
朱春富,吴琼
.
光谱学与光谱分析,
1994,
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电感耦合等离子体光谱法原理和应用[M]. 南开大学出版社 , 陈新坤 编著, 1987
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