ICP-AES法测定金属硅中的Al、B、Ba、Ca、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Ni、Sr、Ti、V和Zn杂质元素

被引:33
作者
张桂广
黄奋
孙晓纲
机构
[1] 广东省韶关进出口商品检验局!韶关,广东省韶关进出口商品检验局!韶关,广东省韶关进出口商品检验局!韶关
关键词
ICP-AES; 金属硅; 杂质元素;
D O I
暂无
中图分类号
O657.3 [光化学分析法(光谱分析法)];
学科分类号
摘要
本文提供了一种测定金属硅中B、Fe、Al、Ca、Mn等 14个杂质元素的ICP AES方法。在样品处理过程中 ,加入适量体积的甘露醇能够抑制B的挥发。用本方法测定了一个国家地球化学标准样 (GSR 4 ) ,结果令人满意
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共 2 条
[1]   IC用高纯试剂中金属杂质分析 [J].
朱春富,吴琼 .
光谱学与光谱分析, 1994, (03) :71-78
[2]  
电感耦合等离子体光谱法原理和应用[M]. 南开大学出版社 , 陈新坤 编著, 1987