欠采样包裹相位图的恢复方法

被引：19

作者：

范琦 ^{[1
,2
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杨鸿儒 ^{[1
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黎高平 ^{[1
]}

袁良 ^{[1
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姜昌录 ^{[1
]}

郭羽 ^{[1
]}

机构：

[1] 西安应用光学研究所光学计量实验室

[2] 空军工程大学理学院

来源：

光学学报 | 2011年 / 31卷 / 03期

关键词：

傅里叶光学; 欠采样; 包裹相位; 剪切干涉; 傅里叶变换; 最小二乘法;

D O I：

暂无

中图分类号：

O438.2 [傅里叶光学];

学科分类号：

摘要：

针对非球面光学元件面形检测中的欠采样问题,提出了一种欠采样包裹相位图的恢复方法。首先,将原始欠采样包裹相位图在水平和竖直两个方向进行一个像素的错位相减,得到两个包裹相位差图。其次,对这两个包裹相位差图进行解包裹运算,得到两个解包裹相位差图。最后,应用傅里叶变换和最小二乘法恢复出连续的相位分布。模拟结果表明该方法可以高精度地对欠采样包裹相位图进行恢复重建。该方法与现有干涉仪相结合,有望实现非球面光学元件面形的检测。

引用

页码：71 / 75

页数：5

共 10 条

[1] 用单幅数字全息和剪切干涉原理重构光场相位 [J].