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高速互连中信号完整性测试单元分析
被引:13
作者
:
郝慈环
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
桂林电子科技大学CAT研究室
郝慈环
颜学龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
桂林电子科技大学CAT研究室
颜学龙
机构
:
[1]
桂林电子科技大学CAT研究室
来源
:
国外电子测量技术
|
2010年
/ 29卷
/ 05期
关键词
:
高速互连;
信号完整性;
测试;
D O I
:
10.19652/j.cnki.femt.2010.05.007
中图分类号
:
TN41 [印刷电路];
学科分类号
:
摘要
:
介绍了高速互连中的信号完整性故障,主要探讨了由NMOS和PMOS管组成的内建高速互连检测单元,该单元用于对高速互连中的信号完整性故障进行测试。主要对已提出的2种故障检测单元进行了对比,分析了它们在信号完整性故障测试方面的不同特点,并用Hspice在有无噪声情况下进行了仿真,在理论分析和仿真结果方面显示了良好的一致性。
引用
收藏
页码:38 / 42
页数:5
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共 2 条
[1]
信号完整性分析.[M].(美)EricBogatin著;李玉山;李丽平等译;.电子工业出版社.2005,
[2]
集成电路测试技术的新进展
[J].
论文数:
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h-index:
机构:
时万春
.
电子测量与仪器学报,
2007,
21
(04)
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