高速互连中信号完整性测试单元分析

被引:13
作者
郝慈环
颜学龙
机构
[1] 桂林电子科技大学CAT研究室
关键词
高速互连; 信号完整性; 测试;
D O I
10.19652/j.cnki.femt.2010.05.007
中图分类号
TN41 [印刷电路];
学科分类号
摘要
介绍了高速互连中的信号完整性故障,主要探讨了由NMOS和PMOS管组成的内建高速互连检测单元,该单元用于对高速互连中的信号完整性故障进行测试。主要对已提出的2种故障检测单元进行了对比,分析了它们在信号完整性故障测试方面的不同特点,并用Hspice在有无噪声情况下进行了仿真,在理论分析和仿真结果方面显示了良好的一致性。
引用
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共 2 条
[1]  
信号完整性分析.[M].(美)EricBogatin著;李玉山;李丽平等译;.电子工业出版社.2005,
[2]   集成电路测试技术的新进展 [J].
时万春 .
电子测量与仪器学报, 2007, 21 (04) :1-4