镀减反射膜后半导体激光器端面反射率谱的测量

被引：1

作者：

卢玉村，陈建国，罗斌，武岚

机构：

[1] 四川大学光电科学技术系，西南交通大学

来源：

关键词：

半导体激光器，减反射膜，端面自发辐射谱;

D O I：

暂无

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

比较相同偏置条件下镀减反射膜前后的半导体激光器端面自发辐射谱，测得了端面反射率随波长变化的关系曲线。该方法突破了Ｋａｍｉｎｏｗ法单一波长测量的限制，同时也避免了Ｋａｍｉｎｏｗ法在两端面镀膜后所遇到的调制度过小的问题。实验中确定出了低于８×１０（－５）的第二镀膜端面反射率。

引用

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