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化学-X-射线荧光光谱法测定地质样品中的痕量稀土元素
被引:13
作者
:
姜桂兰
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机构:
长春地质学院应化系!长春
姜桂兰
曹淑琴
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长春地质学院应化系!长春
曹淑琴
王多禧
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长春地质学院应化系!长春
王多禧
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邹海峰
乔延江
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机构:
长春地质学院应化系!长春
乔延江
机构
:
[1]
长春地质学院应化系!长春
来源
:
分析化学
|
1994年
/ 01期
关键词
:
化学—X射线荧光光谱法;
稀土元素;
地质样品;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O657.3 [光化学分析法(光谱分析法)];
学科分类号
:
070302 ;
081704 ;
摘要
:
本文采用对氯偶氮氯膦(CPA—PCL)为螯合剂,VS-Ⅱ型强碱性阴离子交换纤维为载体,以先吸着后螯合方式对稀土元素与基体元素进行分离与富集,并经酸溶制备成溶液,采用溶液进样法直接由X射线荧光光谱法(XRFS)测定15个稀土元素。该法具有简便、整合剂用量少、基体效应小的特点,精密度、准确度及检测限均能满足地质样品分析要求,取得满意结果。
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