光电成像系统的像面覆盖方法分析

被引：3

作者：

耿文豹 ^{[1
,2
]}

翟林培 ^{[1
]}

丁亚林 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

[2] 中国科学院研究生院

来源：

半导体光电 | 2009年 / 03期

关键词：

光电成像; 像面覆盖; 延时积分; TDI-CCD;

D O I：

10.16818/j.issn1001-5868.2009.03.033

中图分类号：

TN29 [光电子技术的应用];

学科分类号：

摘要：

为了实现延时积分电荷耦合器件(TDI-CCD)在光电成像系统中的有效应用,在对现有光电成像系统像面覆盖方法分析的基础上,基于TDI-CCD的时间延时积分功能,提出了一种新的像面覆盖方法,并从理论上对新的像面覆盖方法进行了分析。通过与现有方法的对比,分析了新方法的特点,说明了该方法的可用性和实用性。

引用

页码：448 / 450+454 +454

页数：4

共 7 条

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