多CCD拼接相机系统中畸变误差研究

被引：8

作者：

何昕

王军

杨会玲

鲍海明

郝志航

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

[2] 长春理工大学

来源：

半导体光电 | 2005年 / 02期

关键词：

CCD拼接; 光学畸变; 脱靶量;

D O I：

10.16818/j.issn1001-5868.2005.02.022

中图分类号：

TB852.1 [照相机];

学科分类号：

摘要：

光学畸变普遍存在于高精度光电测量设备系统中,是影响系统测量精度的一个重要因素。在分析多CCD拼接相机结构理论基础上,提出了多CCD拼接相机系统畸变误差模型,同时提出了测量该系统中畸变误差的方法以及修正方法。大量实验结果表明,利用该检测方法与修正方法能够显著提高该系统测量精度,该方法可行且对其他光电测量设备有参考价值。

引用

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