邻苯二甲酰化壳聚糖的合成与溶致液晶表征

被引：6

作者：

董炎明

吴玉松

王勉

机构：

[1] 厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室,厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室,厦门大学材料科学与工程系和固体表面物理化学国家重点实验室厦门,厦门,厦门

来源：

物理化学学报 | 2002年 / 07期

关键词：

壳聚糖; 邻苯二甲酰化壳聚糖; 溶致液晶; 临界浓度(c); X射线电子能谱; 取代度;

D O I：

暂无

中图分类号：

O636 [天然高分子化合物（高聚物）];

学科分类号：

070305 ; 080501 ; 081704 ;

摘要：

从全脱乙酰化壳聚糖出发,在室温下合成了一系列不同取代度的邻苯二甲酰化壳聚糖(PhCS),由于反应条件温和,产物未发生进一步的酰亚胺化.X射线电子能谱(XPS)被用来测定PhCS的取代度.测定结果表明在N上和O上均发生取代,N上反应的取代度随酸酐用量的增加基本保持不变(0.26±0.03),而O上的取代度却不断变大(0.01～1.54),合成产物的总取代度为0.26～1.81.邻苯二甲酰化壳聚糖可溶解于普通的有机溶剂,如DMSO、二氯乙酸和甲酸,并形成溶致液晶.测定了PhCS在这些溶剂中的临界浓度(c),结果表明c基本上不受取代度变化的影响.

引用

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共 4 条

[1] 分子结构对乙基氰乙基纤维素/丙烯酸胆甾型液晶性的影响附视频 [J].