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布置方式对直流绝缘子串人工污秽闪络特性的影响
被引:34
作者:

胡建林
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机构: 高电压与电工新技术教育部重点实验室(重庆大学)

蒋兴良
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机构: 高电压与电工新技术教育部重点实验室(重庆大学)

张志劲
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孙才新
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机构: 高电压与电工新技术教育部重点实验室(重庆大学)

舒立春
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机构: 高电压与电工新技术教育部重点实验室(重庆大学)
机构:
[1] 高电压与电工新技术教育部重点实验室(重庆大学)
来源:
关键词:
布置方式;
人工污秽;
直流绝缘子串;
闪络特性;
高电压与绝缘技术;
D O I:
10.13335/j.1000-3673.pst.2006.23.003
中图分类号:
TM216 [绝缘子和套管];
TM852 [环境对绝缘的影响];
学科分类号:
摘要:
直流绝缘子串布置方式对污闪电压有影响,以2种典型直流瓷绝缘子(XZP-210和XZP-300)为试品,在人工雾室中通过试验研究了悬垂单串布置(I型)、悬垂双串布置(II型)和V型布置绝缘子串的直流负极性污闪特性,分析了布置方式对负极性污闪电压的影响。结果表明:直流绝缘子串布置方式对污闪电压有影响;在不同污秽程度下,V型布置时直流污闪电压比I型布置时高14.5%25.9%,II型布置则比I型布置低4.2%9.0%;且随着污秽程度的增加,V型布置相对于I型布置的污闪电压提高的百分数和II型布置相对于I型布置降低的百分数均增大。
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