布置方式对直流绝缘子串人工污秽闪络特性的影响

被引：34

作者：

胡建林

蒋兴良

张志劲

孙才新

舒立春

机构：

[1] 高电压与电工新技术教育部重点实验室(重庆大学)

来源：

电网技术 | 2006年 / 23期

关键词：

布置方式; 人工污秽; 直流绝缘子串; 闪络特性; 高电压与绝缘技术;

D O I：

10.13335/j.1000-3673.pst.2006.23.003

中图分类号：

TM216 [绝缘子和套管]; TM852 [环境对绝缘的影响];

学科分类号：

摘要：

直流绝缘子串布置方式对污闪电压有影响,以2种典型直流瓷绝缘子（XZP-210和XZP-300）为试品,在人工雾室中通过试验研究了悬垂单串布置（I型）、悬垂双串布置（II型）和V型布置绝缘子串的直流负极性污闪特性,分析了布置方式对负极性污闪电压的影响。结果表明:直流绝缘子串布置方式对污闪电压有影响;在不同污秽程度下,V型布置时直流污闪电压比I型布置时高14.5%25.9%,II型布置则比I型布置低4.2%9.0%;且随着污秽程度的增加,V型布置相对于I型布置的污闪电压提高的百分数和II型布置相对于I型布置降低的百分数均增大。

引用

页码：11 / 14+20 +20

页数：5