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CCD像素响应不均匀性的校正方法
被引:54
作者:
陈迎娟
张之江
张智强
机构:
[1] 上海大学通信与信息工程学院
来源:
关键词:
电荷耦合器件;
不均匀性;
暗电流;
光电响应;
校正算法;
D O I:
暂无
中图分类号:
TN386.5 [电荷耦合器件];
学科分类号:
摘要:
从理论上分析了CCD暗电流和光电响应不均匀性产生的原因,根据光电响应模型提出了CCD像素光电响应不均匀性的校正方法,给出了像素光电响应不均匀性的校正系数用以计算校正量;并针对实际情况中干扰光的影响,提出了采用变波长去除干扰方法,对校正方法进行了修正;最后通过仿真对算法进行了验证。结果表明,能量和噪声的不同对算法的影响不大,校正量是随着光信号能量分布变化的,标定过程不受信号的影响,具有自适应性。该校正方法可以有效地减小CCD像素光电响应不均匀性带来的图像噪声。
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页码:216 / 220
页数:5
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