子孔径拼接干涉检测凸非球面的研究

被引：20

作者：

王孝坤

郑立功

张学军

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所中国科学院光学系统先进制造技术重点实验室

来源：

光学学报 | 2010年 / 30卷 / 07期

关键词：

测量; 子孔径拼接干涉(SSI); 凸非球面; 零位补偿测试;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH74 [光学仪器];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

在总结各种检测凸非球面方法优缺点的基础上,提出了利用子孔径拼接干涉检测凸非球面的新方法。利用标准球面波前作为参考波面,用干涉法逐次测量非球面各区域的相位分布,去除参考波面偏差以及调整误差后,通过子孔径拼接算法就可以重构凸非球面全口径的面形分布。研究和分析了该方法的基本原理和基础理论,开发了综合优化和误差均化的子孔径拼接算法。设计和研制了子孔径拼接干涉检测装置,并结合实例对口径为140 mm的碳化硅凸非球面进行了子孔径拼接测量,得到了精确的全口径面形分布,其面形分布的峰值(PV)和均方根(RMS)值偏差分别为0.274λ和0.024λ(λ=632.8 nm),且对该非球面进行零位补偿测量,其全口径面形与拼接全口径面形是一致的,面形分布的PV和RMS值的偏差仅为0.064λ和0.002λ,从而提供了又一种定量测试凸非球面的手段。

引用

页码：2022 / 2026

页数：5

共 9 条

[1] 子孔径拼接干涉测量一大口径双曲面(英文) [J].