背入射Au/ZnO/Al结构肖特基紫外探测器

被引:9
作者
赵延民 [1 ,2 ]
张吉英 [1 ]
张希艳 [3 ]
单崇新 [1 ]
姚斌 [1 ]
赵东旭 [1 ]
张振中 [1 ]
李炳辉 [1 ]
申德振 [1 ]
范希武 [1 ]
机构
[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所激发态物理重点实验室
[2] 中国科学院研究生院
[3] 长春理工大学材料科学与工程学院
关键词
紫外探测器; 背入射; Au/ZnO/Al垂直结构;
D O I
暂无
中图分类号
TN23 [紫外技术及仪器];
学科分类号
0803 ; 080401 ; 080901 ;
摘要
设计制作了一种Au/ZnO/Al结构的紫外探测器,光的入射方式采用背入射式。ZnO薄膜是用磁控溅射在蓝宝石衬底上制备的。I-V测试表明:Au与ZnO形成了肖特基接触。得到探测器的光响应峰值在352nm,截止边为382nm,可见抑制比达一个量级。由于该探测器是一种垂直结构器件,对于进一步实现ZnO紫外探测器阵列及单光子探测有很好的研究价值。
引用
收藏
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页数:4
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共 1 条
[1]   Point defect characterization of GaN and ZnO [J].
Semiconductor Research Center, Wright State University, Dayton, OH 45435, United States .
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