宣德官窑青花瓷的面扫描分析

被引：8

作者：

杨益民

冯敏

朱剑

毛振伟

王昌燧

黄宇营

何伟

机构：

[1] 中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学技术大学科技史与科技考古系,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所安徽合肥,安徽合肥,安徽合肥,安徽合肥,安徽合肥,北京,北京

来源：

光谱学与光谱分析 | 2004年 / 08期

关键词：

青花瓷; SRXRF; 面扫描; 无损检测;

D O I：

暂无

中图分类号：

K876 [各种材料器物];

学科分类号：

0601 ;

摘要：

用SRXRF对宣德时期官窑青花瓷片上的瓷彩进行面扫描分析 ,结果表明各元素分析线的峰面积有着不同的分布模式。根据与颜色浓淡、瓷彩上黄斑的耦合关系可以将K ,Cr ,Mn ,Fe,Co ,Ni,Cu ,Zn ,Hg ,Rb ,Sr,Y和Zr等 13个元素分为 3组。它可作为各个朝代青花瓷“指纹元素”的选择依据 ,并提出了研究瓷彩中黄斑的形成机制的新思路

引用

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