关于光学元件波面测量中的功率谱密度

被引：6

作者：

于瀛洁

李国培

机构：

[1] 上海大学精密机械工程系

来源：

计量学报 | 2003年 / 02期

关键词：

计量学; 波面测量; 功率谱密度; 光学元件;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH744.5 [];

学科分类号：

摘要：

讨论了光学件波面检测中 ,采用功率谱密度 (PSD)作为重要评价参数的原因、相关的国际标准、PSD计算方法及PSD结果的评价准则等。虽然所进行的讨论主要是针对高功率激光系统中的光学元件检测 ,但对于其它应用领域的检测也是有借鉴意义的

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页数：5

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共 4 条

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