电阻率横向剖面探测走滑断层的数值模拟研究

被引：4

作者：

吴子泉

谭捍东

王成虎

机构：

[1] 山东省地震工程研究院

[2] 中国地质大学

[3] 中国地质大学山东济南

[4] 北京

来源：

关键词：

走滑断层; 电阻率; 纵向剖面; 横向剖面; 数值模拟;

D O I：

暂无

中图分类号：

P631.322 [];

学科分类号：

0818 ; 081801 ; 081802 ;

摘要：

本文从走滑断层难以探测的实际出发,讨论了其物性特征。通过对实际模型的数值模拟,讨论了纵、横向剖面电阻率的变化特征。数值模拟结果证明横向剖面和纵向剖面相比在断层探测中有明显的优越性,为走滑断层探测提出了新的思路。

引用

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