室间隔缺损介入封堵术中及术后发生传导阻滞高危因素探讨

目的探讨经导管介入封堵术治疗室间隔缺损(VSD)术中及术后传导阻滞的类型及高危因素。方法选择我院施行室间隔缺损介入封堵术患者45例,术中4例及术后11例出现传导阻滞,对引发传导阻滞的高危因素进行分析。结果45例VSD患者43例封堵成功,成功率95.56%;其中2例术中反复出现完全性房室传导阻滞(CAVB),被迫中止手术;术后11例发生传导阻滞,除Ⅱ°房室传导阻滞及完全性右束支传导阻滞各1例,因出现时间较晚未恢复外,其余传导阻滞均在14d内恢复。年龄(<4岁)、VSD上缘距主动脉右冠瓣距离(<3mm)、VSD直径(≥10mm)、穿刺成功后A-V轨道建立时间(≥60min)与传导阻滞的发生密切相关(P<0.05)。结论传导阻滞是膜周部室间隔缺损封堵术的常见并发症,了解VSD的特殊解剖结构、严格选择手术适应症缩短手术操作时间、减少传导束及其周围组织水肿是减少室间隔缺损介入封堵术后传导阻滞发生率的有效措施。