研制试验阶段,产品可靠性增长的评定

本文讨论经历了研制试验的产品的可靠性问题,设产品进行了m阶段的成败型试验,其可靠性随着阶段不断增长,即满足R12<…m,求第m阶段可靠性的下限,按Smith的方法,取没有验前知识时的验前分布,可得到第m阶段可靠性Rm的下限的精确解,为了工程实践的需要,推导了两种近似解,最后举例说明方法应如何使用,并指出近似解的精度。