X射线衍射技术的发展和应用

被引：56

作者：

杨新萍

机构：

[1] 山西师范大学

来源：

山西师范大学学报(自然科学版) | 2007年 / 01期

关键词：

X射线衍射; 晶粒大小; 结晶度; 应力; 点阵参数;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.34 [Ｘ射线荧光分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

X射线衍射技术的应用范围非常广泛,现已渗透到物理、化学、材料科学以及各种工程技术科学中,成为一种重要的分析方法,本文介绍了X射线衍射的基本原理、主要应用和进展.

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页数：5

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