基于Visio的图形化建模可测性分析软件设计

被引：4

作者：

高旭

龙兵

杨兴霁

王义琴

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院

来源：

中国测试 | 2011年 / 37卷 / 04期

关键词：

图形化; 多信号模型; 可测性分析; Visio二次开发; 依赖矩阵;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

通过研究基于多信号模型的可测性建模和分析方法,提出一种基于Visio控件构建图形化建模系统的设计方法。结合具体示例给出了多信号模型的建模方法和故障测试依赖矩阵的求法,并分析了示例的模糊组、未检测故障、冗余测试、隐藏故障、掩盖故障、故障检测率和隔离率等可测性指标,其结果与应用TEAMS软件的分析结果一致。实践证明:该方案是可行的,对开发可测性辅助分析软件具有参考价值。

引用

页码：49 / 53

页数：5

共 11 条

[1] Visio图形化电气计算软件开发技术的研究 [J].

郭伟伟 ;

孙强宇 .

电力系统保护与控制, 2008, (17) :71-74

[2] 基于多信号模型的系统测试性建模与分析 [J].

杨智勇 ;

许爱强 ;

牛双诚 .

工程设计学报, 2007, (05) :364-368+394

[3] 多信号流图的测试性建模与分析 [J].

刘海明 ;

易晓山 .

中国测试技术, 2007, (01) :49-50+98

[4] 关于由邻接矩阵求可达性矩阵的方法 [J].

王欣欣 ;

李金保 .

吉林化工学院学报, 2005, (04) :90-92+95

[5]

基于多信号模型的电子系统可测性算法及软件设计[D]. 王义琴.电子科技大学 2010

[6]

开发Microsoft Visio解决方案[M]. 北京大学出版社 , (美)Microsoft公司著, 2002

[7]

A mathematical modelfor integrated diagnostics. Sheppard J W,Simpson W R. IEEE Design and Test ofComputers . 1991

[8]

Sequential testingalgorithms for multiple fault diagnosis. Shakeri M,Raghavan V,Pattipati K R. IEEE Trans onSMC . 2000

[9]

Multi-Signal Flow Graphs:A Novel Approach for System Testability Analysis and Fault Diagnosis. Deb S,Pattipati K R,Raghavan V,et al. Proc.IEEE Autotestcon 1994 . 1994

[10]

TEAMS:Testability Engineering and Maintenance System. ILR Pattipati,V.Raghavan,M.Shakeri. Proc of American Control Conference . 1994

← 1 2 →