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TiO2在MCM-41内表面单层及双层分散的结构表征
被引：19
作者：
郑珊
高濂
郭景坤
机构：
[1] 中国科学院上海硅酸盐研究所高性能结构陶瓷与超微结构国家重点实验室!上海
来源：
关键词：
介孔分子筛;
MCM-41;
分散;
TiO2;
D O I：
暂无
中图分类号：
O647 [表面现象的物理化学];
学科分类号：
摘要：
首次以有机物钛酸丁酯为前驱体，合成了ＴｉＯ２呈单层分散状态（Ｔｉ／Ｓｉ＝０.２０）或双层分散状态（Ｔｉ／Ｓｉ＝０．３９）的介孔分子筛ＭＣＭ－４１（Ｓｉ／Ａｌ＝３５），并以 ＸＲＤ，ＦＴＩＲ，Ｎ２吸附－脱附，固体ＵＶ－ｖｉｓ 漫反射等表征手段对其结构特征和氧化钛分散状态进行了研究．结果表明： ＴｉＯ２在介孔分子筛ＭＣＭ－４１孔道中分散， ＭＣＭ－４１骨架结构结晶度降低，但是附着二层ＴｉＯ２后，仍能保持长程有序结构； ＴｉＯ２与ＭＣＭ－４１孔道表面的ＳｉＯ２以化学键连接，生成Ｓｉ－Ｏ—Ｔｉ键；无论是单层还是双层分散的 ＴｉＯ２在 ＭＣＭ－４１内孔壁均匀分散；且由于ＴｉＯ２粒子的减小使其对紫外光的吸收发生明显的蓝移现象．
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