电子系统共模噪声若干基本问题探讨

被引：3

作者：

周胜海 ^{[1
]}

王秀杰 ^{[2
]}

机构：

[1] 信阳师范学院物理与电子工程学院

[2] 中原工学院理学院

来源：

信阳师范学院学报(自然科学版) | 2008年 / 02期

关键词：

共模噪声; 共模信号; 差模信号; 寄生电容;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN06 [测试技术及设备];

学科分类号：

摘要：

共模电流电磁辐射(共模噪声)已成为许多现代电子产品中的主要辐射源,是产品能否通过辐射发射强制测试认证的决定因素.由于共模噪声十分复杂,所以一些文献上关于共模噪声的基本问题的分析、推断、结论等并不一致,甚至矛盾,不利于共模噪声及其抑制技术的研究与应用.本文从应用的角度出发,探讨了共模噪声的含义、特性、估算、测量等若干基本问题.

引用

页码：317 / 320

页数：4

共 5 条

[1] 数字电路中△Ⅰ噪声的危害 [J].