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TiN薄膜腐蚀过程的电化学原子力显微镜原位研究
被引:6
作者
:
俞春福
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机构:
大连海事大学材料工艺研究所
俞春福
徐久军
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机构:
大连海事大学材料工艺研究所
徐久军
王亮
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机构:
大连海事大学材料工艺研究所
王亮
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机构:
许晓磊
黑祖昆
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机构:
大连海事大学材料工艺研究所
黑祖昆
机构
:
[1]
大连海事大学材料工艺研究所
来源
:
材料保护
|
2001年
/ 12期
关键词
:
TiN薄膜;
腐蚀;
电化学原子力显微镜;
原位观察;
D O I
:
10.16577/j.cnki.42-1215/tb.2001.12.007
中图分类号
:
TG174.3 [腐蚀试验及设备];
学科分类号
:
摘要
:
用离子束增强沉积 (IBED)技术在 1Cr18Ni9不锈钢上制备了TiN薄膜 ,并用电化学原子力显微镜 (ECAFM) ,从纳米级空间分辨度对其在 3%NaCl溶液中的早期腐蚀过程进行了原位研究。结果表明 ,TiN薄膜在极化电位的阴极区域发生钛氧化物膜的还原溶解 ;在低阳极极化电位下 ,发生轻微腐蚀 ,当阳极极化电位进一步提高 ,在 2 0 0~ 30 0mV出现电解抛光现象。可见 ,电化学原子力显微镜是研究早期腐蚀过程的有效研究手段 ,可原位观察研究微观腐蚀的过程
引用
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