辐射、散射近场测量及近场成像技术的研究进展

被引：36

作者：

张福顺

焦永昌

马金平

刘其中

张进民

毛乃宏

机构：

[1] 西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安,西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安,西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安,西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安,西安电子科技大学天线与电磁散射研究所!陕西西安

来源：

关键词：

近场测量; 辐射; 散射; 成像;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN820 [一般性问题];

学科分类号：

080906 [电磁信息功能材料与结构];

摘要：

近场技术是近年来兴起的一种先进的测量技术，它已广泛地应用于辐射、散射测量以及目标成像．概述了目前辐射、散射近场测量及近场成像技术理论研究和测量方法的发展现状以及主要研究成果；并探讨了有关这几个分支需要进一步研究的主要问题．

引用

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