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纳米技术专利的法律状态信息分析
被引:19
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
郭颖
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
朱东华
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
苏源
机构
:
[1]
北京理工大学管理与经济学院
来源
:
科学学研究
|
2009年
/ 27卷
/ 03期
关键词
:
专利分析;
法律状态信息;
纳米技术;
D O I
:
10.16192/j.cnki.1003-2053.2009.03.024
中图分类号
:
G306 [专利研究];
D923.42 [专利法];
学科分类号
:
摘要
:
专利法律状态信息对于把握专利质量、判断技术成熟度有重要意义,但尚未引起人们足够的重视。本文在搭建了专利法律状态信息分析框架后,选择纳米技术中国专利为实证研究对象,主要从专利授权分析、专利失效分析和专利寿命分析三个角度对申请量排名前10位的国家及地区进行法律状态信息分析,在获得实证分析结论的同时发现专利法律状态信息是对专利申请基本信息的重要补充,在衡量技术实力、研发差距和专利质量方面意义尤为重要。
引用
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页码:368 / 373
页数:6
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Free patent information as a resource for policy analysis[J] . Martin Meyer,Jan Timm Utecht,Tatiana Goloubeva.World Patent Information . 2003 (3)
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