可测试性技术的现状与未来

被引：33

作者：

温熙森

胡政

易晓山

杨拥民

机构：

[1] (长沙)国防科技大学机电工程与自动化学院!

来源：

关键词：

可测试性; 可测试性设计; 机内测试;

D O I：

10.19708/j.ckjs.2000.01.003

中图分类号：

V241.06 [试验与试验设备];

学科分类号：

摘要：

可测试性是同可靠性、维修性相并列的一门新型学科和技术 ,其发展和应用对于提高产品的质量 ,降低产品的全寿命周期费用具有重要意义。本文介绍了可测试性技术的产生、内涵与关键技术、发展历程及现状 ,并对其未来发展方向进行了预测。

引用

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