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X射线荧光光谱集成分析系统
被引:6
作者:
应志春,邓赛文,甘露,吴晓军,梁国立,罗立强
机构:
[1] 地矿部岩矿测试技术研究所
来源:
关键词:
X射线荧光光谱,分析软件,功能开发;
D O I:
10.15898/j.cnki.11-2131/td.1995.01.013
中图分类号:
O657.34 [X射线荧光分析法];
学科分类号:
070302 ;
081704 ;
摘要:
选用了兼容性能好的386微机,在DOS操作系统和Windows3.1环境下,研究开发了x射线荧光光谱集成分析系统(XRFIAS),全面更新了理学公司3080系列仪器的计算机硬件和软件。采用了当前最流行的多窗口、全屏幕友好界面,在西文DOS操作系统下,显示汉字信息。有常规的(背景扣除、内标校正、谱重叠校正、基体校正)数据处理功能(多种校正模式),扩充了分析元素、内标元素、干扰元素的数量,新开发了共用背景曲线拟合,背景扣除、稀释率和烧失量校正等软件。系统具有开放性,可应用各种软件工具或科学计算软件包。
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