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圆形标志中心子像素定位方法的研究与实现
被引:48
作者
:
黄桂平
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0
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0
机构:
天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
黄桂平
机构
:
[1]
天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
来源
:
武汉大学学报(信息科学版)
|
2005年
/ 05期
关键词
:
图像测量;
回光标志;
边缘检测;
亚像素;
椭圆拟合;
D O I
:
10.13203/j.whugis2005.05.003
中图分类号
:
P231 [航空摄影测量];
学科分类号
:
摘要
:
采用回光反射材料制作圆形回光反射标志,经摄影后得到标志的“准二值影像”;对标志的椭圆影像进行亚像素边缘提取,经最小二乘椭圆拟合后得到标志中心的子像素级位置。试验表明,可以达到0.02像素的定位精度。
引用
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页数:4
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