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基于高分辨一维像的目标特征提取方法
被引:16
作者
:
徐庆
论文数:
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引用数:
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0
机构:
南京电子技术研究所
徐庆
王秀春
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机构:
南京电子技术研究所
王秀春
李青
论文数:
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机构:
南京电子技术研究所
李青
机构
:
[1]
南京电子技术研究所
来源
:
现代雷达
|
2009年
/ 31卷
/ 06期
关键词
:
高分辨一维像;
姿态敏感性;
平移敏感性;
特征提取;
D O I
:
10.16592/j.cnki.1004-7859.2009.06.014
中图分类号
:
TN957.52 [数据、图像处理及录取];
学科分类号
:
摘要
:
雷达高分辨一维像反映了目标的精细结构和材料质地,但它具有姿态敏感性和平移敏感性,直接利用一维像进行目标识别难以取得理想的效果。文中基于雷达高分辨一维像,提出了能量聚集区长度、强散射中心数目、一维像序列的方差和"信源熵"等4个具有平移不变性的特征概念,将其构成特征向量,并用实测数据验证其可行性和有效性,取得了较好的效果。
引用
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页码:60 / 63
页数:4
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[11]
雷达成像技术[M]. 电子工业出版社 , 保铮,邢孟道,王彤编著, 2005
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