基于专利分析的共性技术识别研究框架

被引：12

作者：

江娴 ^{[1
,2
]}

魏凤 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院武汉文献情报中心

[2] 中国科学院大学

来源：

情报杂志 | 2015年 / 34卷 / 12期

关键词：

共性技术; 专利分析; 识别框架; 共性技术识别; 产业共性技术;

D O I：

暂无

中图分类号：

G306 [专利研究];

学科分类号：

摘要：

目前利用专利信息分析进行共性技术识别的方法较少,且建立的指标较单一,基本均是着重测度共性技术对其他技术领域的影响,还缺少较完整的识别方法体系。鉴于这种现状,在详细梳理共性技术定义及特征的基础上,初步构建了基于专利分析识别共性技术的"双层次—多维度"研究框架,从"技术影响范围层面"与"技术研究阶段层面"两个层面,技术"基础性""外部性""集成性""超前性"4个维度逐步识别出共性技术,为政府及产业界遴选共性技术提供新的方法和思路。

引用

页码：79 / 84

页数：6

共 21 条

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