长波红外高光谱非均匀性校正及光谱特征提取

被引:11
作者
林颖
徐卫明
袁立银
王建宇
机构
[1] 中国科学院上海技术物理研究所
关键词
长波红外高光谱; 非均匀性校正; 光谱特征提取;
D O I
暂无
中图分类号
TN215 [红外探测、红外探测器];
学科分类号
0803 ; 080401 ; 080901 ;
摘要
长波红外高光谱系统既可分析目标成分又能感应其温度信息,广泛应用于遥感领域。该系统响应波段为7.7~9.5μm,共32个波段,光谱分辨率达53 nm,可用于地质勘探,环境监测等领域。由于长波红外器件工艺问题,探测器在成像之前必须进行非均匀性校正。通过对比基于焦平面和基于光谱的校正方法,说明后者能够很好地保持目标的原始光谱特征,并且不具有场景依赖的特点。在此基础上,提出从原始光谱曲线中提取目标光谱特征的方法,得到不同温度黑体和高光谱图像上不同目标的光谱曲线。
引用
收藏
页码:605 / 610
页数:6
相关论文
共 5 条
[1]   非均匀性处理算法 [J].
汤新 ;
王凤贺 .
红外与激光工程, 2008, 37(S2) (S2) :619-621
[2]   红外焦平面阵列非均匀性的两点校正及依据 [J].
刘会通 ;
易新建 .
红外与激光工程, 2004, (01) :76-78
[3]   一种改进的光谱响应测量方法 [J].
任青海 ;
周凯 .
红外与激光工程, 1997, (06) :52-56
[4]  
Performance ofthe FIRST;a longwave infrared hyperspectral imaging sensor..Farley V;Vallieres A;Chamberland M;et al;.SPIE.,
[5]  
红外物理.[M].张建奇;方小平编著;.西安电子科技大学出版社.2004,