3T磁敏感成像在弥漫性轴索损伤中的应用及与GCS评分的相关性

被引：17

作者：

毕国力 ^{[1
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戴敏方 ^{[1
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吴昆华 ^{[1
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杨雷 ^{[2
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赵英 ^{[1
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龚霞蓉 ^{[1
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任丽香 ^{[1
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芮茂萍 ^{[1
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机构：

[1] 昆明医学院附属昆华医院MRI科

[2] 昆明医学院附属昆华医院神经外科

来源：

临床放射学杂志 | 2012年 / 31卷 / 01期

关键词：

弥漫性轴索损伤; 磁敏感成像; 脑出血;

D O I：

10.13437/j.cnki.jcr.2012.01.004

中图分类号：

R445.2 [核磁共振成像]; R651.1 [颅脑];

学科分类号：

摘要：

目的探讨3 T磁敏感加权成像(SWI)及扩散加权成像(DWI)对弥漫性轴索损伤(DAI)的诊断价值及其与格拉斯哥昏迷量表(GCS)评分的相关性。资料与方法对40例DAI患者,均行常规T1WI、T2WI、液体衰减反转恢复(FLAIR)、DWI及SWI,对所得数据在工作站用软件进行图像后处理,并分析、统计。结果在40例DAI患者中,磁共振常规序列共发现36个出血灶,在DWI上共发现44个出血灶,在SWI上共发现376个出血灶,GCS评分13～15分25例,9～12分11例,≤8分4例,GCS评分较低者其出血灶数较多,且出血灶范围较大者其GCS评分亦较低。结论在DAI患者中,SWI能较常规序列及DWI上显示更多脑内微小出血灶,GCS评分高低与出血灶数目多少及大小有明显相关性。SWI可为临床早期诊断DAI和在治疗方案的制定及评估预后中提供很大帮助。

引用

页码：11 / 15

页数：5

共 6 条

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