一种基于分块编码和优化排序的测试数据压缩技术

被引：5

作者：

刘杰 ^{[1
,2
]}

梁华国 ^{[1
]}

徐三子 ^{[1
]}

机构：

[1] 合肥工业大学计算机与信息学院

[2] 阜阳师范学院物理与电子科学学院

来源：

电子测量与仪器学报 | 2009年 / 23卷 / 05期

关键词：

测试数据压缩; 分块; 相容; 测试模式;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

为了有效地降低数字集成电路测试成本,提出了一种编码压缩方案和测试排序算法。这种压缩方案就是把每一个测试模式分成固定长度的块,并根据相邻测试模式的对应块是否相容和一位相异进行编码。同时采用贪婪的排序算法对编码过程中所有测试模式进行动态排序,寻找一种最佳压缩顺序,以便进一步发挥所提方案的压缩效果。文章最后给出了该方案的解压思想和实验结果,证明了该方案能够提高数据压缩率,降低附加硬件开销,优于已知的其他测试数据压缩方案。

引用

页码：85 / 91

页数：7

共 4 条

[1] 基于粒子群算法的故障测试集优化 [J].

侯艳丽 ;

赵春晖 ;

胡佳伟 .

电子测量与仪器学报, 2008, (04) :21-25

[2] 一种基于变长数据块相关性统计的测试数据压缩和解压方法 [J].

欧阳一鸣 ;

成丽丽 ;

梁华国 .

电子学报, 2008, (02) :298-302

[3] 应用混合游程编码的SOC测试数据压缩方法 [J].

方建平 ;

郝跃 ;

刘红侠 ;

李康 .

电子学报, 2005, (11) :55-59

[4]

An efficient test vector compression technique based on block merging .2 EL-MALEH A. Proceedings of IEEE International Symposium on Cir-cuits and Systems . 2006

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