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坐标测量机高精度测头技术
被引:8
作者
:
孙涛
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机构:
哈尔滨工业大学!信箱
孙涛
张龙江
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机构:
哈尔滨工业大学!信箱
张龙江
机构
:
[1]
哈尔滨工业大学!信箱
[2]
邮编:
[3]
电话:()
[4]
哈尔滨工业大学
来源
:
制造技术与机床
|
2001年
/ 10期
关键词
:
三坐标测量机;
测头;
原子力微探针;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH72 [坐标器、计算机具、计数器];
学科分类号
:
摘要
:
介绍了坐标测量机高精度测头的研究发展现状 ;分析了接触方式、光学方式、扫描方式测头的优缺点 ;研究了日本松下公司研制的高精度测头测量原理 ;基于原子力微探针的基本原理 ,设计了一种新型的坐标测量机测头 ;指出了采用原子力准接触技术是测头向高精度发展的方向之一。
引用
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计量型原子力显微镜
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M.Bienias
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;
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[2]
对发展坐标测量机测头的新思考
[J].
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.
现代计量测试,
1995,
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[J].
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1994,
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[4]
精密仪器精度理论[M]. 机械工业出版社 , 张善锺编著, 1993
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