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X射线法测量的ICF靶丸参数的图像分析
被引:6
作者:
杨冬
虞孝麒
龚达涛
机构:
[1] 中国科学技术大学近代物理系
来源:
关键词:
ICF靶;
X射线法;
辐向平均法;
二阶微分;
D O I:
暂无
中图分类号:
TL631 [磁约束装置];
学科分类号:
摘要:
在ICF靶丸参数测量中,采用接触X射线显微辐射照相法获得靶核的X射线吸收底片图像,将该底片放置于显微镜下并用CCD获得了数字化图像。基于该数字化图像信息,编写了一套完整的计算机算法来计算靶参数。采用辐向平均法标定出靶中心,采用图像强度函数对半径的二阶微分来确定出靶层分界位置,计算精度约为0.2pixels。
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页数:5
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