X射线法测量的ICF靶丸参数的图像分析

被引:6
作者
杨冬
虞孝麒
龚达涛
机构
[1] 中国科学技术大学近代物理系
关键词
ICF靶; X射线法; 辐向平均法; 二阶微分;
D O I
暂无
中图分类号
TL631 [磁约束装置];
学科分类号
摘要
在ICF靶丸参数测量中,采用接触X射线显微辐射照相法获得靶核的X射线吸收底片图像,将该底片放置于显微镜下并用CCD获得了数字化图像。基于该数字化图像信息,编写了一套完整的计算机算法来计算靶参数。采用辐向平均法标定出靶中心,采用图像强度函数对半径的二阶微分来确定出靶层分界位置,计算精度约为0.2pixels。
引用
收藏
页码:1553 / 1557
页数:5
相关论文
共 3 条
  • [1] X射线法测量ICF靶丸参数中表面轮廓法的应用附视频
    刘元琼
    罗青
    王明达
    [J]. 强激光与粒子束, 2000, (01) : 69 - 71
  • [2] 5F软X光胶片响应特性研究
    杨家敏
    丁耀南
    郑志坚
    易荣清
    王耀梅
    唐道源
    [J]. 光学学报, 1997, (05) : 88 - 92
  • [3] 上海软X光胶片响应的相对标定
    杨家敏
    易荣清
    马洪良
    陈正林
    王红斌
    孙可煦
    郑志坚
    温树槐
    不详
    崔明启
    黎刚
    崔聪悟
    [J]. 强激光与粒子束, 1996, (02) : 118 - 122