电针对脑缺血再灌注大鼠外周血内源性内皮祖细胞的作用

被引：21

作者：

蔡绍皙 ^{[1
]}

于文娟 ^{[1
]}

张莉 ^{[2
]}

王秀志 ^{[2
]}

赵瑛 ^{[3
]}

陈斯佳 ^{[1
]}

机构：

[1] 重庆大学生物工程学院

[2] 北京中医药大学针灸学院

[3] 重庆师范大学生命科学学院

来源：

针刺研究 | 2009年 / 02期

关键词：

脑缺血再灌注; 电针; 内皮祖细胞; 血管内皮生长因子; 一氧化氮合酶;

D O I：

10.13702/j.1000-0607.2009.02.010

中图分类号：

R245.13 [];

学科分类号：

100512 ;

摘要：

目的:初步探讨电针对脑缺血后内源性内皮祖细胞(EPCs)及其相关因子的影响。方法:72只SD大鼠随机分为正常组、假手术组、模型组、针刺组,各组分24、48、72h3个时间点,每个时间点6只。大脑中动脉闭塞法制造脑缺血再灌注模型。电针刺激大鼠单侧"足三里""曲池",针刺30min,每日1次。使用流式细胞术检测EPCs的数量,ELISA法检测血清中内皮生长因子(VEGF)含量,分光光度法检测总一氧化氮合酶(TNOS)、诱导型一氧化氮合酶(iNOS)活力。结果:模型组脑缺血再灌注后24h外周血EPCs数量和血清TNOS、iNOS活力都明显升高(P<0.01,P<0.05);48h时,针刺组EPCs数量升高,与其它各组相比差异有统计学意义(P<0.05,P<0.01);72h时,针刺组EPCs数量较模型组降低(P<0.01)。针刺组在各时间点血清中VEGF含量都高于其它各组(P<0.01,P<0.05)。结论:脑缺血再灌注损伤后外周血EPCs数量和血清iNOS活力增加。电针能够影响脑缺再灌注损伤大鼠内源性EPCs,该作用可能与VEGF表达上调有关。

引用

页码：114 / 119

页数：6

共 11 条

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