注意缺陷多动障碍儿童在不同情绪面孔刺激下的持续注意任务事件相关电位

目的:了解不同情绪面孔刺激下注意缺陷多动障碍(ADHD)患儿执行持续注意任务时的事件相关电位特征。方法:选取符合美国精神障碍诊断与统计手册第4版(DSM-IV)诊断标准的混合型ADHD患儿32例(年龄9～15岁)及年龄、性别匹配的正常对照组儿童32例,要求被试在高兴、中性、恐惧和愤怒等4种情绪面孔刺激随机呈现后执行注意与选择任务,同时记录事件相关电位。观察ADHD患者和正常对照组儿童面孔诱发的N170电位及靶刺激诱发的P300电位的特征。结果:ADHD组患儿在4种不同情绪面孔刺激下颞枕区面孔特异性N170波波幅均低于对照组[如恐惧面孔,(17.7±9.5)μv vs.(25.8±14.0)μv,P<0.05],顶枕区P300潜伏期长于对照组[如恐惧面孔,[(454.2±51.3)ms vs.(433.0±29.8)ms,P<0.05]。ADHD患儿组在四情绪面孔诱发的N170波幅和潜伏期差异无统计学意义(P>0.05),诱发的P300在四种情绪刺激中以恐惧面孔刺激后执行注意任务的P300波幅最低,潜伏期最长。结论:ADHD儿童在4种不同情绪面孔刺激下,以恐惧面孔刺激引起的P300波幅最低,且P300潜伏期延长最明显。提示恐惧面孔可能影响ADHD患儿情绪调节,并影响其持续注意过程。