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JTAG接口电路设计与应用
被引:147
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
温国忠
机构
:
[1]
深圳职业技术学院电子与信息工程学院
来源
:
微计算机信息
|
2007年
/ 23期
关键词
:
JTAG;
菊花链;
DFT;
IEEE-1149.1;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN402 [设计];
学科分类号
:
140102
[集成电路设计与设计自动化]
;
摘要
:
目前通讯电子产品的芯片、单板、系统的复杂度不断提高,物理尺寸却在不断缩小,JTAG电路的设计也随之成为关系到单板可测性、稳定性和可靠性的重要因素。JTAG测试接口在集成电路工作时,可以控制管脚的状态,由于应用系统的干扰,可能使JTAG测试口出现错误操作,从而影响芯片及其管脚的工作状态,造成芯片不能正常工作,给产品的可靠运行带来隐患。因此,很有必要对JTAG接口电路设计进行探讨,找到一种更合理的JTAG接口电路设计。
引用
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页码:298 / 299+302 +302
页数:3
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共 2 条
[1]
基于SOC测试的IEEE P1500
[J].
何仑
论文数:
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机构:
上海大学微电子中心
何仑
;
杨松华
论文数:
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0
h-index:
0
机构:
上海大学微电子中心
杨松华
.
微计算机信息,
2005,
(07)
:53
-55
[2]
VLSI测试方法学和可测性设计.[M].雷绍充;邵志标;梁峰著;.电子工业出版社.2005,
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