面粉中滑石粉的X射线衍射分析

被引:14
作者
王承明
潘峰
高滢
吴谋成
机构
[1] 华中农业大学食品科学技术学院
关键词
面粉; 滑石粉; X射线衍射分析;
D O I
暂无
中图分类号
TS211.7 [产品标准与检验];
学科分类号
摘要
通过四氯化碳分离或高温灰化,X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。其中灰化处理适宜温度为500~750℃。该方法简便、快速,灵敏度高,样品用量少,准确可靠,可推广为检测面粉质量的一种较理想的手段。
引用
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