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面粉中滑石粉的X射线衍射分析
被引:14
作者
:
论文数:
引用数:
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机构:
王承明
潘峰
论文数:
0
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0
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机构:
华中农业大学食品科学技术学院
潘峰
高滢
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机构:
华中农业大学食品科学技术学院
高滢
论文数:
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机构:
吴谋成
机构
:
[1]
华中农业大学食品科学技术学院
来源
:
分析科学学报
|
2006年
/ 06期
关键词
:
面粉;
滑石粉;
X射线衍射分析;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TS211.7 [产品标准与检验];
学科分类号
:
摘要
:
通过四氯化碳分离或高温灰化,X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。其中灰化处理适宜温度为500~750℃。该方法简便、快速,灵敏度高,样品用量少,准确可靠,可推广为检测面粉质量的一种较理想的手段。
引用
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页码:651 / 654
页数:4
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