ICP-AES在高纯稀土氧化物分析中应用的研究Ⅴ——稀土杂质元素ICP摄谱法检出限研究

被引：3

作者：

黄志荣

陈新坤

刘振祥

李殿海

机构：

[1] 南开大学化学系,南开大学化学系,南开大学化学系,南开大学化学系天津,天津,天津,届毕业生

来源：

光谱学与光谱分析 | 1990年 / 03期

关键词：

检出限; 光谱仪; 灵敏线; 分光计; 光学式分析仪器; ICP-AES; 分析线; 摄谱法; 稀土杂质; 基体元素; 载气流量; 电离能; AES;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

<正> ICP-AES是痕量稀土元素分析十分有效的方法,它在地质和冶金样品分析中已得到广泛应用,在高纯稀土氧化物中痕量稀土测定方面,也有许多报导。高纯稀土氧化物中稀土杂质元素检出限多在1～10μg/g之间(溶液检出限则为10—100ng/ml之间),并随谱线性质、仪器设备条件及操作参数和基本性质而异。

引用

页码：26 / 31

页数：6