电晕放电老化对高温硫化硅橡胶材料陷阱特性的影响

被引：28

作者：

宋伟 ^{[1
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申文伟 ^{[1
]}

王国利 ^{[2
]}

王育路 ^{[3
]}

张冠军 ^{[1
]}

机构：

[1] 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室

[2] 特高压工程技术(昆明广州)国家工程实验室

[3] 陕西省电力公司规划评审中心

来源：

高电压技术 | 2013年 / 39卷 / 04期

关键词：

复合绝缘子; 高温硫化; HTV; 电晕放电; 老化; 电子陷阱; 空穴陷阱; SEM分析; XPS分析;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM851 [电晕对绝缘的影响];

学科分类号：

080803 ;

摘要：

随着运行年限的增加,在役复合绝缘子的老化现象逐渐凸显,严重影响电力系统的安全。为此,首先针对在不同电晕强度(电压和时间)下老化后的高温硫化(HTV)硅橡胶试样,研究了材料表面陷阱特性、表面微观形貌(SEM)和元素特性(XPS)的变化规律,然后分析了不同年限的在役复合绝缘子伞裙材料的陷阱特性。研究表明,随着电晕电压或老化时间的增加,电子和空穴陷阱密度不断增加,最后趋向饱和水平。SEM和XPS分析结果表明,老化后材料表面出现大量孔洞等缺陷,强极性基团数量增加,分别作为物理和化学陷阱对陷阱特性产生影响。对于现场复合绝缘子伞套材料,其电子和空穴陷阱密度也呈现随运行时间增加而增长的类似规律,其中空穴陷阱密度规律性好,重复性强,有望成为一种评价复合绝缘子材料老化的新型定量表征参数。

引用

页码：979 / 986

页数：8

共 16 条

[1] 复合绝缘子的5000h多因素试验及长期性能评价 [J].