基于CCD尺寸测量中图像边缘退化及恢复技术研究

被引:3
作者
刘宾
王黎明
赵霞
机构
[1] 中北大学电子测试技术国家重点实验室
关键词
尺寸测量; 直边衍射; 边缘退化; 边缘恢复;
D O I
暂无
中图分类号
TN386.5 [电荷耦合器件];
学科分类号
080508 [光电信息材料与器件];
摘要
针对直边衍射效应造成的图像边缘退化问题,建立边缘退化模型。从菲涅尔直边衍射理论出发,基于信号与系统理论的图像边缘退化数学描述方法,分析了造成图像边缘退化的原因。通过分析不同光源波长和成像物距下直边衍射强度分布曲线的特点,构造简单函数实现衍射光强分布的近似,进而得到退化系统传递函数;利用退化系统传递函数构造滤波器对获取图像的边缘进行恢复,从而提高尺寸测量精度。实验结果表明:经边缘恢复方法校正后的测量结果误差约为0.02mm,相对未校正数据的测量结果误差减小0.04mm,提高了尺寸测量精度。
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